12月19-20日，“PHI 2024年全國表面分析技術研討會”在上海市成功召開。會議邀請了表面分析領域的技術專家和研究學者，共同為大家帶來有關XPS、TOF-SIMS和AES等最前沿技術進展及其在多學科中的應用的學術交流。
此次大會意義非凡，它不僅是PHI中國一年一度的用戶盛會，更恰逢我們愛發科費恩斯（南京）儀器有限公司UPN成立一周年的喜慶日子。此外，我們還在此次會議上揭開了PHI最新力作——HAXPES儀器GENESIS 900的神秘面紗，這款儀器的問世，無疑將為中國的表面分析事業注入新的活力與動能。值得一提的是，過去一年里，我們還在中國成功建立了首個TOF-SIMS demo實驗室，為推動中國表面分析技術的發展貢獻了一份力量。
12.19 與會人員合影
12.20 與會人員合影
12月19日，我司的應用專家團隊針對XPS、TOF-SIMS、AES表面分析技術的應用及其數據處理進行了專題分享。
葉上遠 UPN總經理
《表面分析技術介紹及進展》
馮林 UPN應用科學家
《X射線光電子能譜（XPS）培訓》
楊歐 UPN應用科學家
《飛行時間二次離子質譜（TOF-SIMS）培訓》
王瑋瑋 UPN應用科學家
《俄歇電子能譜（AES）培訓》
葉上遠先生與UPN南京實驗室現場連線，為大家展示設備
12月20日，“PHI 2024年全國表面分析技術研討會”正式開始，會議主要圍繞XPS、HAXPES、AES、TOF-SIMS等表面分析技術進行研討，并有多位學者進行了主題學術報告和專題報告。
UPN總經理葉上遠先生致開幕詞
鞠煥鑫 UPN應用科學家
《HAXPES: 由表及里的無損深度分析技術》
薛景中 臺灣中央研究院應用科學研究中心 研究員
《Common Issues in XPS Analysis: Identifying and Mitigating Them》
譚細娟 長安大學地球科學與資源學院 副教授
《TOF-SIMS的地學應用及思考》
潘燕芳 清華大學深圳國際研究生院材料與器件檢測技術中心 分析應用工程師
《表面分析技術在鋰電池的應用》
劉麗婷 西北工業大學分析測試中心 副研究員
《光電子能譜技術測試案例分享》
姜自旺 歐陸埃文思材料科技（上海）有限公司 SIMS部門經理
《二次離子質譜在SiC、GaN及GaAs等材料分析測試中的應用》
保秦燁 華東師范大學物理與電子科學學院 教授
《光電子能譜與能源半導體界面》
葉逸凡 中國科學技術大學國家同步輻射實驗室 研究員
《同步輻射硬X射線近常壓光電子能譜研究》
張衛民 歐陸埃文思材料科技（上海）有限公司 市場銷售經理
《歐陸埃文思薄膜分析技術介紹》
許晶晶 河海大學材料科學與工程學院 教授
《二次電池表界面分析》
任杰 甬江實驗室材料分析與檢測中心 實驗室經理
《顯微與表面分析技術及其在材料與器件研發中的應用》
周萬海 復旦大學先進材料實驗室 副研究員
《新型高比能水系電化學及其器件化》
趙利媛 北京理工大學先進材料實驗中心 實驗師
《X射線光電子能譜技術在能源材料中的應用》
會議報告結束后，主辦方精心籌備了一場晚宴，并設置了激動人心的抽獎環節。
中獎者合影
會議在歡聲笑語中畫上了完美的句號。未來，我們誠摯地歡迎各位繼續提出寶貴意見和建議，以為大家提供更優質的服務，共同推動中國表面分析行業的蓬勃發展。期待與您在下次盛會中再次相聚！
